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| 本實用新型的晶片檢測裝置，在一機臺上設有一架體供插入檢測接口，在相對應于架體的下方設有一可受第一驅動組件帶動而與架體相對水平橫向位移的滑臺，于滑臺上設有一可受第二驅動組件帶動而與架體相對上下位移的載臺供放置晶片；俾構成一種方便更換檢測接口，以及尤適合搭配自動取放料設備達到完全自動化運作的晶片檢測裝置；尤其，架體的下方與載臺的上方分別設有相對應配置的錐孔與錐塊，藉以提升整體晶片檢測以及讀取晶片中訊息與內容的準確度。 |
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晶片檢測裝置
一種晶片檢測裝置，其特征在于，包括有： 一機臺； 一架體，設于機臺上方供插入檢測接口； 一可受一第一驅動組件帶動而與架體相對水平橫向位移的滑臺，設于機臺相應于架體的下方； 一可受一第二驅動組件帶動而與架體相對上下位移的載臺，設于滑臺上供放置晶片。
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| 專利號: |
200820001279 |
| 申請日: |
2008年2月1日 |
| 公開/公告日: |
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| 授權公告日: |
2008年11月12日 |
| 申請人/專利權人: |
源程科技股份有限公司 |
| 國家/省市: |
臺灣(71) |
| 郵編: |
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| 發明/設計人: |
許宗寅 |
| 代理人: |
周春發 |
| 專利代理機構: |
北京申翔知識產權服務公司專利代理部(11214) |
| 專利代理機構地址: |
北京市海淀區薊門小區東里(二居)13號樓1門201室(100088) |
| 專利類型: |
發明 |
| 公開號: |
000000000 |
| 公告日: |
2008年11月12日 |
| 授權日: |
2008年11月12日 |
| 公告號: |
201149609 |
| 優先權: |
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| 審批歷史: |
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| 附圖數: |
8 |
| 頁數: |
3 |
| 權利要求項數: |
1 |
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